Image SXM

Az Image SXM a NIH Image nyilvános domain képelemző szoftverének verziója, amelyet kibővítettek a beolvasó mikroszkóp képek betöltése, megjelenítése és elemzése céljából. Az Image SXM támogatja a SAM, SCM, SEM, SFM, SLM, SNOM, SPM és STM képeket az alábbi rendszerekből: Asylum Research, Burleigh Instruments, Digitális Instruments NanoScope II-III-IV, DME Rasterscope, DME Surface Data File, Gatan DigitalMicrograph, JEOL JSM, JEOL WinSem, JEOL WinSPM, JPK Instruments, Klocke Nanotechnik Atomikro, Leica LIF, Leica TCS, LEO SEM, Molecular Imaging PicoScan, NanoMagnetics Instruments SPMSIF, Nanonics Imaging, Nanonis, Nanosurf easyScan, Nanotec Electronica -MDT, Omicron Vakuumphysik, Omicron SCALA, Oxford Instruments TOPSystem, Park tudományos műszerek HFS-LIF, Park tudományos műszerek HDF, Philips SEM, Quesant műszerek, RHK technológia SPM-32, RHK technológia XPM Pro, Seiko Instruments STM Aarhus, ThermoMicroscopes, TopoMetrix SPMLab, Unisoku, Vákuum Generátorok SAM, Veeco Innova, WA technológia, Zeiss AxioVision, Zeiss LSM

Újdonságok

• Korlátozza a ROI-ket 2-féle méretre, hogy az FFT-műveletek mostantól működjenek a
• Változások a "Bakteriális MicroCompartments" elemzéshez

Újdonság a 197-es verzióban:

• Korlátozza a ROI-ket 2-féle méretre, hogy az FFT-műveletek mostantól működjenek a
• Változások a "Bakteriális MicroCompartments" elemzéshez